| 品牌 | SIGLENT/鼎陽(yáng) | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國產(chǎn) |
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| 應用領(lǐng)域 | 化工,電子 | | |
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SNA5052X鼎陽(yáng)4.5GHz矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀主要特性
SNA5052X鼎陽(yáng)4.5GHz矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀概述
低噪聲，高動(dòng)態(tài)范圍
系統動(dòng)態(tài)范圍是VNA一個(gè)非常重要的指標，它是VNA源的最大輸出功率與測試端口本底噪聲的差值。SNA5000X的動(dòng)態(tài)范圍可達125dB@10Hz IFBW，接收機噪底-125dBm/Hz，可適用于對動(dòng)態(tài)范圍要求比較高的測試場(chǎng)景，比如同時(shí)測量濾波器的通帶和帶外抑制性能。
從S參數測試到平衡-不平衡測試
SNA5000X系列支持在多個(gè)窗口添加多條跡線(xiàn)進(jìn)行全4端口S參數測試，并且具備多種顯示格式，比如 Log Mag，Lin Mag，Phase，Delay，Smith，SWR，Polar等，可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數，反射系數，駐波比，阻抗匹配，相位，延時(shí)等參數。在生產(chǎn)線(xiàn)驗證天線(xiàn)，濾波器等的特性時(shí)，還可以保存參考跡線(xiàn)或者添加Limit模板進(jìn)行通過(guò)失敗測試，有利于提高生產(chǎn)效率。
SNA5000X系列還支持端口阻抗變換功能，比如在測試有源差分放大器時(shí)，可將輸入輸出端口進(jìn)行阻抗變換，從而進(jìn)行差分（平衡）測量（比如Scc，Sdd，Scd，Sdc等參數）。 此功能還可應用于差分線(xiàn)纜等其他差分類(lèi)測試。
時(shí)域分析功能
SNA5000X系列支持TDR時(shí)域反射計測量功能，可在時(shí)域對傳輸線(xiàn)的特征阻抗，時(shí)延等參數進(jìn)行分析。
眼圖分析
SNA5000X搭載了眼圖功能，眼圖可以反映信號鏈路上傳輸的數字信號的整體特征，從中觀(guān)察出碼間串擾和噪聲的影響，進(jìn)而估計系統的優(yōu)劣程度。眼圖分析是高速系統信號完整性分析的核心，為需要對高速信號進(jìn)行時(shí)域分析的客戶(hù)節省了大量成本和時(shí)間。
消除夾具效應
在微波射頻領(lǐng)域，如何有效消除有害的測試夾具效應是一大挑戰。比如在對SMD器件進(jìn)行測試時(shí)需要特定的測試夾具實(shí)現測試儀器測試端與器件輸入端的轉接，導致測試結果中包含了測試夾具的特性。目前SNA5000X系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端口阻抗轉換，去嵌入，適配器移除等。
校準件
校準是VNA進(jìn)行可靠測量前必須進(jìn)行的步驟。鼎陽(yáng)科技目前可提供8種SOLT機械校準件，分為經(jīng)濟級校準件和精密級校準件。校準頻率范圍涵蓋DC~9GHz，接口類(lèi)型包含SMA和N型。并且SNA5000X系列還可支持其他廠(chǎng)家的校準件及客戶(hù)自定義校準件的導入，從而保護客戶(hù)對校準件的投資。
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